Spec1 [렛유인 KDC 교육] 반도체 공정설비 데이터분석 7차시 : Wafer Profile 분석, 시각화, 그리고 상관성 분석 1. 들어가며6차시에서 데이터를 수집하고 전처리하는 과정을 중심으로 배웠다면, 7차시는 그렇게 정리한 데이터를 실제로 어떻게 해석하고 결론으로 연결할지를 다루는 시간이었다고 느꼈습니다. 데이터를 많이 보는 것과 데이터를 제대로 읽는 것은 전혀 다른 문제인데, 이번 차시는 바로 그 차이를 직접적으로 보여주는 강의였습니다.이번 차시의 핵심은 크게 네 가지로 나눌 수 있습니다. 웨이퍼 내 위치별 편차를 파악하는 Wafer Profile (Map) 분석조건별 결과를 비교하며 최적 조건을 판단하는 과정시각화를 통해 경향성을 제대로 읽는 방법선형 회귀와 \( R^2 \)를 중심으로 한 상관성 분석입니다. 각각이 따로 노는 주제처럼 보일 수 있지만, 실제로는 하나의 흐름으로 이어집니다. 먼저 위치별 이상 징후를 찾고.. 2026. 3. 23. 이전 1 다음 반응형
